| Рентгенофлуоресцентные анализаторы EDAX |
 | Стационарный рентгенофлуоресцентный анализатор с капиллярной рентгеновской оптикой Eagle II m-Probe. Рентгенофлуоресцентный спектрометр с возможностью элементного анализа (от Na до U) твердых веществ, жидкостей, суспензий, сплавов и тонких пленок. В качестве первичного излучения используется рентгеновское излучение родиевой микротрубки мощностью 40 Вт и напряжением питания 40 кВ. Полупроводниковый кремниевый детектор, охлаждаемый жидким азотом, с окном площадью 80мм2 позволяет осуществлять элементный анализ с разрешением не хуже155 эВ при концентрациях элементов до ppm. Капиллярная рентгеновская оптика позволяет фокусировать рентгеновский пучок до размера 100 мкм. В комплект входит, вакуумируемая камера, форвакуумный насос, 3-х осевой моторизованный столик, две CCD камеры, программное обеспечение Eagle Software, персональный компьютер. |
| Alloy Checker | Анализатор сплавов - Alloy Checker лучшее средство для достоверной идентификации металлов Подробнее... |
|
| Рентгеновские микроанализаторы для электронных микроскопов Genesis |
| Genesis 2000 XMS 30 SEM | Система EDS микроанализа для сканирующих микроскопов. Облегченная система, комплектуется Si(Li) детектором с ультратонким окном, охлаждаемым жидким азотом (элементный анализ от C до U, разрешение лучше, чем 129эВ по линии MnKa); компьютером, монитором, принтером, пакетом программного обеспечения включающим Genesis SEM Quant ZAF software, использующим матрицу ZAF коррекции при осуществлении качественного и количественного анализа. |
| Genesis 2000 XMS 60 SEM | Система EDS микроанализа для сканирующих микроскопов. Комплектуется Si(Li) детектором с ультратонким окном, охлаждаемым жидким азотом (элементный анализ от C до U, разрешение лучше, чем 129эВ по линии MnKa); компьютером, монитором, принтером, пакетом программного обеспечения включающим:
· Genesis SEM Quant ZAF software, использующим матрицу ZAF коррекции при осуществлении качественного и количественного анализа;
· Genesis EDX Imaging/Mapping software для улучшенного отображения сигнала и построения карт содержания элементов;
· программу, контролирующую стабильность электронного пучка. |
| Genesis 4000 XMS 30 SEM | Система EDS микроанализа для сканирующих микроскопов. Комплектуется Si(Li) детектором с ультратонким окном, охлаждаемым жидким азотом (элементный анализ от C до U, разрешение лучше, чем 129эВ по линии MnKa); компьютером, монитором, принтером, пакетом программного обеспечения включающим:
· Genesis SEM Quant ZAF software, использующим матрицу ZAF коррекции при осуществлении качественного и количественного анализа;
· Genesis SEM Quant PhiRhoZ software, использующим матрицу PhiRhoZ коррекции при осуществлении качественного и количественного анализа;
· программу для управления микроскопом (установка увеличения, размера пятна, увеличения и т.д.). |
| Genesis 4000 XMS 60 SEM | Система EDS микроанализа для сканирующих микроскопов. Комплектуется Si(Li) детектором с ультратонким окном, охлаждаемым жидким азотом (элементный анализ от C до U, разрешение лучше, чем 129эВ по линии MnKa); компьютером, монитором, принтером, пакетом программного обеспечения включающим:
· Genesis SEM Quant ZAF software, использующим матрицу ZAF коррекции при осуществлении качественного и количественного анализа;
· Genesis SEM Quant PhiRhoZ software, использующим матрицу PhiRhoZ коррекции при осуществлении качественного и количественного анализа;
· программу для управления микроскопом (установка увеличения, размера пятна, увеличения и т.д.);
· Genesis EDX Imaging/Mapping software для улучшенного отображения сигнала и построения карт содержания элементов;
· программу, контролирующую стабильность электронного пучка. |
| Genesis 7000 XMS 300 SEM | Система EDS микроанализа для сканирующих микроскопов. Комплектуется Si(Li) детектором с ультратонким окном, охлаждаемым жидким азотом (элементный анализ от C до U, разрешение лучше, чем 129эВ по линии MnKa); компьютером, монитором, принтером, пакетом программного обеспечения включающим:
· Genesis SEM Quant ZAF software, использующим матрицу ZAF коррекции при осуществлении качественного и количественного анализа;
· Genesis SEM Quant PhiRhoZ software, использующим матрицу PhiRhoZ коррекции при осуществлении качественного и количественного анализа;
· программу Genesis VIP Quant Software для осуществления анализа на микроскопах, работающих в режиме низкого вакуума;
· программу коррекции спектра с учетом взаимодействия образца и электронов методом Монте Карло;
· программу для управления микроскопом (установка увеличения, размера пятна, увеличения и т.д.). |
| Genesis 7000 XMS 600 SEM | Система EDS микроанализа для сканирующих микроскопов. Комплектуется Si(Li) детектором с ультратонким окном, охлаждаемым жидким азотом (элементный анализ от C до U, разрешение лучше, чем 129эВ по линии MnKa); компьютером, монитором, принтером, пакетом программного обеспечения включающим:
· Genesis SEM Quant ZAF software, использующим матрицу ZAF коррекции при осуществлении качественного и количественного анализа;
· Genesis SEM Quant PhiRhoZ software, использующим матрицу PhiRhoZ коррекции при осуществлении качественного и количественного анализа;
· программу Genesis VIP Quant Software для осуществления анализа на микроскопах, работающих в режиме низкого вакуума;
· программу коррекции спектра с учетом взаимодействия образца и электронов методом Монте Карло;
· программу для управления микроскопом (установка увеличения, размера пятна, увеличения и т.д.).
· Genesis EDX Imaging/Mapping software для улучшенного отображения сигнала и построения карт содержания элементов;
· программу, контролирующую стабильность электронного пучка. |
| LambdaSpec | Система WDS микроанализа. Система волнового рентгеновского микроанализа, комплектуется пятью кристаллами по выбору заказчика. Система может быть оптимизирована как для анализа легких, так и тяжелых элементов. Разрешение аналитического сигнала лучше 20эВ в интервале энергий от 100эВ до 10 кэВ. Оснащается программным обеспечением, входящим в комплект систем Genesis. |
|
|
