|
|
|
|
Уважаемые коллеги!
Сообщаем Вам, что ООО«СМА» является участником XVII Российского симпозиума по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел (РЭМ-2011), который пройдет с 31 мая по 2 июня 2011 года в г.Черноголовке.
В программу симпозиума включены следующие доклады от ООО «СМА»:
В.Я. Шкловер
Новые приборные и методические решения в растровой электронной микроскопии.
(1 июня 2011 года).
В.Я. Шкловер, Е.Д. Бедошвили, П.Р. Казанский, Е.В. Лихошвай
3D – реконструкция внутриклеточных структур диатомовой водоросли Synedra acus с использованием системы DUAL BEAM FIB/SEM QUANTA 3D FEG.
(1 июня 2011 года).
Подробности см.на сайте симпозиума http://purple.ipmt-hpm.ac.ru/sem/prog.htm.
Приглашаем Вас прослушать доклад директора компании «СМА» Шкловера В. Я. «ТРЕХМЕРНАЯ ХАРАКТЕРИЗАЦИЯ И АНАЛИЗ НАНОСТРУКТУР ЭЛЕКТРОННО- И ИОННО-ЛУЧЕВЫМИ МЕТОДАМИ: ОТ МАТЕМАТИЧЕСКИХ МОДЕЛЕЙ К ПРАКТИЧЕСКОМУ ИСПОЛЬЗОВАНИЮ», который будет прочитан в рамках 4-ой Школы «Метрология и стандартизация в нанотехнологиях и наноиндустрии. Функциональные наноматериалы» 27 апреля в 12 ч. 05 мин. (Дом ученых СО РАН, г.Новосибирск, http://conf.nsc.ru/nanomet-2011/ru/invitation).
Приглашаем Вас также посетить стенд на выставке аналитического оборудования, которая пройдет в рамках данной Школы. На стенде компании «СМА» наши сотрудники расскажут Вам о новых методиках, разработанных Лабораторией применения «СМА» для изучения функциональных наноматериалов, а также продемонстрируют возможности управления аналитическим оборудованием на расстоянии в режиме реального времени.
ООО «СМА» является участником выставки АНАЛИТИКА ЭКСПО`2011. Наш стенд № С 1601.
Место проведения: МВЦ «Крокус Экспо», Москва, МКАД, 66-й км, проезд: ст. метро «Мякинино»
Время работы:
26 апреля…….вторник 10:00-18:00
27 апреля.……среда 10:00-18:00
28 апреля.……четверг 10:00-18:00
29 апреля.……пятница 10:00-16:00
Посетите на выставке наш стенд С 1601!
Доклад компании «СМА» "ПЕРСПЕКТИВЫ ПРИМЕНЕНИЯ ЭЛЕКТРОННО- И ИОННО-ЗОНДОВЫХ МЕТОДОВ ПРИ РАЗРАБОТКЕ И ИССЛЕДОВАНИИ КЕРАМИЧЕСКИХ И КОМПОЗИТНЫХ МАТЕРИАЛОВ" включен в программу Всероссийской школы-семинара "ФИЗХИМИЯ-2010" по тематическому направлению деятельности национальной нанотехнологической сети "Композитные наноматериалы».
Подробнее см.на сайте http://www.nifhi.org.ru
Приглашаем Вас прослушать доклад «Виртуальные системы для микроскопии и анализа наноструктур» директора компании «СМА» Шкловера Владимира Яковлевича, посвященный возможностям применения технологии удаленного доступа и управления аналитическим оборудованием в реальном времени на расстоянии.
Доклад будет прочитан в рамках III Международной выставки по нанотехнологиям «Rusnanotech 2010» 1 ноября в 15 ч 30 мин. на арене выставки.
Приглашаем Вас также посетить на выставке стенд компании «СМА» (G 9-5), где Вам будут продемонстрированы технологии управления электронными микроскопами на расстоянии в режиме реального времени в действии.
Место проведения выставки: ЦВК «Экспоцентр», павильон «ФОРУМ».
Часы работы выставки:
1, 2 ноября 2010 г. — с 10.00 до 18.00
3 ноября 2010 г. — с 10.00 до 16.30
Проезд: ст. м. «Выставочная», Краснопресненская наб., 14.
26 октября 2010г. представитель компании FEI Company Херман Леменс выступит с доладом: "FIB/SEM and automated mineralogy for core and cutting analysis". Доклад будет прочитан в рамках Российской нефтегазовой конференции в секции "Сейсмика и петрофизика" в 14ч. 40мин. (ВВЦ, пав.75).
Получить консультацию у представителя компании FEI Company Хермана Леменса Вы можете во время работы выставки "SPE Russian Oil and Gas 2010" на стенде ООО "СМА" (ВВЦ, пав.75, стенд С50).
Международный форум по нанотехнологиям Rusnanotech-09

Уважаемые коллеги!
Позвольте пригласить Вас на Международный форум по нанотехнологиям Rusnanotech-09, который будет проходить с 06-08 октября в Центральном выставочном комплексе «Экспоцентр». Проезд: ст. м. «Деловой центр», Краснопресненская наб., 14.
Будем рады встрече на стенде компании «Системы для микроскопии и анализа».
Также приглашаем принять участие в научно-технологической секции форума "НАНОТЕХНОЛОГИИ В ЗДРАВООХРАНЕНИИ (МЕДИЦИНСКАЯ ТЕХНИКА, ИЗДЕЛИЯ МЕДИЦИНСКОГО НАЗНАЧЕНИЯ, ВАКЦИНЫ)", где Вашему вниманию будет представлен доклад «Комплексные электронно-микроскопические решения задач нанобиологии (от лаборатории до клиники)» . Докладчик - директор ООО "Системы для микроскопии и анализа", Шкловер Владимир Яковлевич. Доклад можно будет прослушать 7 октября с 10:00 до 13:45.
Подробнее о мероприятиях форума читайте здесь: (http://www.rusnanoforum.ru/).
Нам 10 лет!
Уважаемые коллеги, в разделе "Лаборатория применения" Вы можете ознакомиться с презентацией об услугах, предоставляемых нашей компанией.
Международный форум по нанотехнологиям Rusnanotech-08
Уважаемые коллеги!
Позвольте пригласить Вас на Международный форум по нанотехнологиям Rusnanotech-08, который будет проходить с 03-05 декабря в Центральном выставочном комплексе «Экспоцентр». Проезд: ст. м. «Деловой центр», Краснопресненская наб., 14.
Будем рады встрече на стенде компании «Системы для микроскопии и анализа».
Также приглашаем принять участие в научно-технологической секции форума "Образование в области нанотехнологий", где Вашему вниманию будет представлен доклад Increasing Role of IT in Electron Microscopy for Nanotechnology . Докладчик - Marc Peeters, Director of Sales, Indirect Channels, FEI Company. Директор ООО "Системы для микроскопии и анализа", Шкловер Владимир Яковлевич выступит в секции "Нанотехнологии в медицине" с докладом The importance of electron microscopy techniques in nanobiology and diagnostic pathology, а также с докладом в рамках деловой программы форума.
Подробнее о мероприятиях форума читайте здесь: (http://www.rusnanoforum.ru/).
Архив всех новостей
|
|
|
|