|
|
|
|
|
Уважаемые Господа,
Позвольте пригласить Вас и Ваших коллег на семинар «Уникальный инструментарий для анализа материалов.Методы XPS, AES и SIMS»
Москва
7 октября 11:00
Вторник
По адресу: Ленинский проспект, д. 59,
Институт кристаллографии
|
Санкт-Петербург
9 октября 11:00
Четверг
По адресу: улица Профессора Попова,
дом 5-б, ЛЭТИ
|
Ведущий семинара: Wolfgang Bertz, Sales Director, Physical Electronics (PHI).
Представляемые методы анализа материалов – оже-спектрометрия (AES), масс-спектрометрия TOF-SIMS и D-SIMS, рентгеновская фотоэлектронная спектрометрия (XPS/ESCA) – обеспечивают субмикронную элементную, химическую и молекулярную характеризацию, а также визуализацию твердых поверхностей и тонких пленок для таких продуктов, как полупроводники, жесткие диски, полимеры, лакокрасочные и другие покрытия. Незаменимы производственным компаниям в
химической, полупроводниковой и фармацевтической промышленности для улучшения качества продукции, проведения анализа отказов и управления технологическими процессами.
Сайт Physical Electronics:http://www.phi.com/
|  |
 |
Линейка приборов:
Cканирующий оже-микрозонд (PHI-700 AES)
Квадрупольный масс-спектрометр вторичных ионов
(PHI ADEPT - 1010 D – SIMS)
Рентгеновский фотоэлектронный спектрометр
(Quantera SXM, PHI 5000 VersaProbe XPS/ESCA)
Время-пролетный масс-спектрометр (PHI Trift V nanoTOF, TOF-SIMS)
Предварительная запись на семинар и дополнительная информация:
Малиновская Ольга,
malinovskaya@microscop.ru,
+7 (495) 933-43-17, +7 (910) 450-23-02 |
|
|
|
|
