О компании Новости Продукция Услуги Партнеры События Вопросы Контакты
  • Уважаемые коллеги!
    Сообщаем Вам, что ООО«СМА» является участником XVII Российского симпозиума по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел (РЭМ-2011), который пройдет с 31 мая по 2 июня 2011 года в г.Черноголовке.
    В программу симпозиума включены следующие доклады от ООО «СМА»:

    В.Я. Шкловер
    Новые приборные и методические решения в растровой электронной микроскопии.
    (1 июня 2011 года).

    В.Я. Шкловер, Е.Д. Бедошвили, П.Р. Казанский, Е.В. Лихошвай
    3D – реконструкция внутриклеточных структур диатомовой водоросли Synedra acus с использованием системы DUAL BEAM FIB/SEM QUANTA 3D FEG.
    (1 июня 2011 года).

    Подробности см.на сайте симпозиума http://purple.ipmt-hpm.ac.ru/sem/prog.htm.

  • Приглашаем Вас прослушать доклад директора компании «СМА» Шкловера В. Я. «ТРЕХМЕРНАЯ ХАРАКТЕРИЗАЦИЯ И АНАЛИЗ НАНОСТРУКТУР ЭЛЕКТРОННО- И ИОННО-ЛУЧЕВЫМИ МЕТОДАМИ: ОТ МАТЕМАТИЧЕСКИХ МОДЕЛЕЙ К ПРАКТИЧЕСКОМУ ИСПОЛЬЗОВАНИЮ», который будет прочитан в рамках 4-ой Школы «Метрология и стандартизация в нанотехнологиях и наноиндустрии. Функциональные наноматериалы» 27 апреля в 12 ч. 05 мин. (Дом ученых СО РАН, г.Новосибирск, http://conf.nsc.ru/nanomet-2011/ru/invitation).
    Приглашаем Вас также посетить стенд на выставке аналитического оборудования, которая пройдет в рамках данной Школы. На стенде компании «СМА» наши сотрудники расскажут Вам о новых методиках, разработанных Лабораторией применения «СМА» для изучения функциональных наноматериалов, а также продемонстрируют возможности управления аналитическим оборудованием на расстоянии в режиме реального времени.

  • ООО «СМА» является участником выставки АНАЛИТИКА ЭКСПО`2011. Наш стенд № С 1601.

    Место проведения: МВЦ «Крокус Экспо», Москва, МКАД, 66-й км, проезд: ст. метро «Мякинино»
    Время работы:
    26 апреля…….вторник 10:00-18:00
    27 апреля.……среда 10:00-18:00
    28 апреля.……четверг 10:00-18:00
    29 апреля.……пятница 10:00-16:00

    Посетите на выставке наш стенд С 1601!

  • Доклад компании «СМА» "ПЕРСПЕКТИВЫ ПРИМЕНЕНИЯ ЭЛЕКТРОННО- И ИОННО-ЗОНДОВЫХ МЕТОДОВ ПРИ РАЗРАБОТКЕ И ИССЛЕДОВАНИИ КЕРАМИЧЕСКИХ И КОМПОЗИТНЫХ МАТЕРИАЛОВ" включен в программу Всероссийской школы-семинара "ФИЗХИМИЯ-2010" по тематическому направлению деятельности национальной нанотехнологической сети "Композитные наноматериалы».

    Подробнее см.на сайте http://www.nifhi.org.ru


  • Приглашаем Вас прослушать доклад «Виртуальные системы для микроскопии и анализа наноструктур» директора компании «СМА» Шкловера Владимира Яковлевича, посвященный возможностям применения технологии удаленного доступа и управления аналитическим оборудованием в реальном времени на расстоянии.

    Доклад будет прочитан в рамках III Международной выставки по нанотехнологиям «Rusnanotech 2010» 1 ноября в 15 ч 30 мин. на арене выставки.

    Приглашаем Вас также посетить на выставке стенд компании «СМА» (G 9-5), где Вам будут продемонстрированы технологии управления электронными микроскопами на расстоянии в режиме реального времени в действии.

    Место проведения выставки: ЦВК «Экспоцентр», павильон «ФОРУМ».
    Часы работы выставки:
    1, 2 ноября 2010 г. — с 10.00 до 18.00
    3 ноября 2010 г. — с 10.00 до 16.30
    Проезд: ст. м. «Выставочная», Краснопресненская наб., 14.


  • 26 октября 2010г. представитель компании FEI Company Херман Леменс выступит с доладом: "FIB/SEM and automated mineralogy for core and cutting analysis". Доклад будет прочитан в рамках Российской нефтегазовой конференции в секции "Сейсмика и петрофизика" в 14ч. 40мин. (ВВЦ, пав.75).

    Получить консультацию у представителя компании FEI Company Хермана Леменса Вы можете во время работы выставки "SPE Russian Oil and Gas 2010" на стенде ООО "СМА" (ВВЦ, пав.75, стенд С50).

  • Международный форум по нанотехнологиям Rusnanotech-09

    Уважаемые коллеги!
    Позвольте пригласить Вас на Международный форум по нанотехнологиям Rusnanotech-09, который будет проходить с 06-08 октября в Центральном выставочном комплексе «Экспоцентр».
    Проезд: ст. м. «Деловой центр», Краснопресненская наб., 14.
    Будем рады встрече на стенде компании «Системы для микроскопии и анализа».
    Также приглашаем принять участие в научно-технологической секции форума "НАНОТЕХНОЛОГИИ В ЗДРАВООХРАНЕНИИ (МЕДИЦИНСКАЯ ТЕХНИКА, ИЗДЕЛИЯ МЕДИЦИНСКОГО НАЗНАЧЕНИЯ, ВАКЦИНЫ)", где Вашему вниманию будет представлен доклад «Комплексные электронно-микроскопические решения задач нанобиологии (от лаборатории до клиники)» . Докладчик - директор ООО "Системы для микроскопии и анализа", Шкловер Владимир Яковлевич. Доклад можно будет прослушать 7 октября с 10:00 до 13:45.
    Подробнее о мероприятиях форума читайте здесь: (http://www.rusnanoforum.ru/).


  • Нам 10 лет!


  • Уважаемые коллеги, в разделе "Лаборатория применения" Вы можете ознакомиться с презентацией об услугах, предоставляемых нашей компанией.

  • Международный форум по нанотехнологиям Rusnanotech-08
    Уважаемые коллеги!
    Позвольте пригласить Вас на Международный форум по нанотехнологиям Rusnanotech-08, который будет проходить с 03-05 декабря в Центральном выставочном комплексе «Экспоцентр».
    Проезд: ст. м. «Деловой центр», Краснопресненская наб., 14.
    Будем рады встрече на стенде компании «Системы для микроскопии и анализа».
    Также приглашаем принять участие в научно-технологической секции форума "Образование в области нанотехнологий", где Вашему вниманию будет представлен доклад Increasing Role of IT in Electron Microscopy for Nanotechnology . Докладчик - Marc Peeters, Director of Sales, Indirect Channels, FEI Company. Директор ООО "Системы для микроскопии и анализа", Шкловер Владимир Яковлевич выступит в секции "Нанотехнологии в медицине" с докладом The importance of electron microscopy techniques in nanobiology and diagnostic pathology, а также с докладом в рамках деловой программы форума.
    Подробнее о мероприятиях форума читайте здесь: (http://www.rusnanoforum.ru/).


  • NTMEX-2008

    С 10 по 12 ноября в Универсальном выставочном зале Правительства Москвы (Новый Арбат, 36/9) при поддержке Правительства Москвы и Российской Федерации пройдет V Международная выставка наноиндустрии NTMEX-2008, охватывающая все аспекты нанотехнологий и материалов от постановки задач до технического воплощения и промышленного внедрения (http://www.ntmex.ru).
    Наша компания приглашает Вас посетить нашу экспозицию.

  • Выставка «ЛабораторияЭкспо-2008»

    Компания «Системы для микроскопии и анализа» приглашает Вас посетить 6-ю специализированную выставку «ЛабораторияЭкспо-2008» (ссылка на официальный сайт выставки), посвященную новейшим приборам и оборудованию для лабораторий с 21 по 24 октября 2008 г. по адресу: Москва, проспект Мира, домовладение 119, Всероссийский выставочный центр (ВВЦ), 20 пав-н.
    Будем рады встрече с Вами на стенде №D1.

  • Уважаемые Господа,

    Позвольте пригласить Вас и Ваших коллег на семинар «Уникальный инструментарий для анализа материалов.Методы XPS, AES и SIMS». Подробнее о семинаре можно узнать здесь

  • Выставка «SIMEXPO - Научное приборостроение - 2008»

    Уважаемые коллеги!

    Приглашаем посетить наш стенд № Е10 на международной специализированной выставке приборов и оборудования для научных исследований «SIMEXPO - Научное приборостроение - 2008» (http://www.simexpo.ru/), которая будет проходить с 13 по 15 октября в выставочном комплексе «Крокус Экспо», павильон 1, зал 1.
    Проезд: ст. м. «Тушинская», «Планерная», «Строгино» - бесплатные автобусы в день работы выставки, на автомобиле: пересечение МКАД (внешняя сторона, 66 км) и Волоколамского шоссе.

  • Выставка ChipEXPO-2008

    Приглашаем Вас посетить ведущую российскую выставку по электронике, микроэлектронике и компонентам ChipEXPO-2008 (http://www.chipexpo.ru) с 01-03 октября 2008 в выставочном центре «Экспоцентр» по адресу: Москва, Краснопресненская наб., д.14.
    Выставочный стенд компании «Системы для микроскопии и анализа» будет располагаться в павильоне №7, зал 5, стенд № 11.
    Для ознакомления с планом выставочного павильона перейдите по этой ссылке
    Бесплатные пригласительные билеты Вы можете распечатать, нажав на эту ссылку

  • «ИнтерСекьюритиФорум-2008»

    С 24 по 25 сентября в здании Культурного центра ФСБ РФ (ул. Большая Лубянка, д.12), г. Москва пройдет 3-ий московский международный форум по вопросам безопасности «INTERSECURITYFORUM 2008» «Общественная и государственная безопасность в условиях глобализации» (http://www.intersecurityforum.ru) .
    Наша компания приглашает Вас посетить нашу экспозицию.

  • Выставка A-TESTex-2008

    Приглашаем Вас посетить 6-ю международную специализированную выставку "A-TESTex" (ссылка на сайт http://www.analyticaexpo.ru) (Аналитическое оборудование, контрольно-измерительные приборы, лабораторная мебель, химические реактивы. БИОАНАЛИТИКА) с 22.04.2008 - 25.04.2008 по адресу: Москва, МВЦ "Крокус Экспо (66 км. МКАД, внешняя сторона).
    Будем рады встрече с Вами на стенде № B1156..

  • Выставка "ЛаборТех-2008" Киев

    Компания «Системы для микроскопии и анализа» приглашает Вас посетить VIII Международную специализированную выставку "ЛаборТех-2008" (ссылка на сайт http://vneshexpo.kiev.ua/proekty/technology.htm), посвященную комплексному обеспечению лабораторий всех отраслей промышленности и экономики, с 01- 04 апреля 2008 г. по адресу: Международный выставочный центр, Украина, г. Киев, Броварской пр-т, 15, ст. м. Левобережная.
    Будем рады встрече с Вами на стенде № E.2.3.

  • Выставка «ЭкспоЭлектроника-2008»

    С 15 по 18 апреля в Москве, в выставочном комплексе «Крокус Экспо» будет проводиться крупнейшая в России и Восточной Европе выставка электронных компонентов и технологического оборудования «ЭкспоЭлектроника-2008», проходящая в Москве с 1998 года и ежегодно демонстрирующая новинки отрасли. Экспозиция ООО «Системы для микроскопии и анализа» расположена на стенде № N-12 (павильон № 3, зал № 13).
    Подробнее о выставке (http://www.expoelectronica.ru/).

  • С 13 по 16 марта в Москве, в выставочном комплексе СК «Олимпийский» по адресу: Олимпийский пр., д.16, ст. метро "Проспект Мира" пройдет 7-ая Международная выставка и конференция «Неразрушающий контроль и Техническая Диагностика в Промышленности» NDT-2008.
    ООО «Системы для микроскопии и анализа» приглашает Вас посетить наш стенд № А 19.
    Подробнее о выставке можно узнать здесь

  • Уважаемые дамы и господа!
    Позвольте пригласить Вас на семинар «Применение устройств для подготовки образцовдля электронной микроскопии» 1 февраля 12:00 по адресу: Москва, Ленинский проспект, д. 59, офис 109. Ведущий семинара Alan Robins, директор по маркетингу компании Fischione Instruments.
    Подробнее о семинаре можно узнать здесь

  • На нашем сайте появился новый раздел, посвященный пробоподготовке. В данном разделе представлена продукция компаний Gatan Inc. и Fischione Instruments. Ознакомиться с ним можно здесь

  • Теперь в разделе "Электронные микроскопы FEI Company" представлен уникальный прибор для получения изображения - PHENOM. С ним можно ознакомиься здесь. Вы также можете посетить англоязычный сайт, целиком посвященный данному прибору: www.phenom-world.com

  • Компания «Системы для микроскопии и анализа» приглашает Вас посетить IV специализированную выставку нано- технологий и материалов NTMEX-2007 с 05- 07 декабря по адресу: г. Москва, Новый Арбат, 36, здание Правительства Москвы.

    Будем рады встрече с Вами на стенде № D-2.


  • Наша компания приняла участие в Международной специализированной выставке приборов и оборудования для научных исследований "SIMEXPO - Научное приборостроение - 2007". Выставка прошла в МВЦ "КРОКУС-ЭКСПО" с 20 по 22 ноября. С отчетом по выставке можно ознакомиться здесь

  • На нашем сайте появился раздел "Вакансии". Ознакомиться с ним можно здесь

  • В рамках инновационной образовательной программы, одной из основных целей которой является развитие современной науки, наша компания произвела установку электронно-ионного сканирующего микроскопа в университетском материаловедческом центре Томского Государственного Университета.(фото из февральского выпуска газеты "Alma Mater", ТГУ)

  • На сайте появился новый раздел, посвященный созданию лабораторий. Ознакомиться с ним можно в разделе "Услуги" или пройдя по данной ссылке.

  • Теперь на нашем сайте вы можете ознакомиться с продукцией компании Physical Electronics (PHI). Информация размещена по этому адресу

  • 25 октября 2006 года в конференц-зале Института Кристаллографии РАН состоялся семинар «Дифракция обратноотражённых электронов и фазовый анализ в растровой электронной микроскопии»

  • Появилась русская версия сайта компании SPI Supplies. С содержимым этого сайта можно ознакомиться по адресу www.2spi.ru

  • 3-го июня 2006 года в Москве, в Институте Кристаллографии Российской Академии Наук (ИК РАН), был открыт Пилотный Научно-Технический Центр Совершенствования и Развития Нанотехнологий.Подробнее...

  • С 5 по 7 декабря 2005 года компания "Системы для микроскопии и анализа" приняла участие во Второй специализированной выставке нанотехнологий и материалов "NTMEX-2005". Выставка была посвящена демонстрации достижений в области нанотехнологий и наноматериалов и их продвижению на мировом рынке. Компания "Системы для микроскопии и анализа" получила Почетный диплом выставки. С фотоматериалами выставки можно ознакомиться здесь

  • Уважаемые господа! Приглашаем вас посетить наш стенд на выставке АналитикаЭкспо, которая будет проходить с 14 по 17 марта 2006 г. в КВЦ Сокольники. Подробнее с материалами выставки можно ознакомиться на сайте www.mvk.ru

  • 3–7 октября 2005 г. ООО «Системы для микроскопии и анализа» примет участие в Международной конференции «Микро- и наноэлектроника—2005» (ICMNE-2005) Московская обл., Звенигород, пансионат "Липки".

  • 27 - 28 сентября 2005 г. ООО «Системы для микроскопии и анализа» приглашает Вас посетить наш стенд № 701 С на выставке SEMI EXPO CIS 2005, которая будет проходить в МГВЗ "Новый Манеж" по адресу Москва, Георгиевский переулок, дом 3/3, стр. 3 с 10:00 до 17:00.

  • Министерство энергетики США подыскивает партнеров для разработки микроскопа, который позволит получать изображения частиц размером в пол-ангстрема, то есть вполовину атома водорода. Это необходимо для дальнейшего развития нанотехнологии. В проекте примет участие и компания FEI, производитель электронных микроскопов и другого оборудования для наблюдения и манипулирования отдельными атомами и молекулами. Подробнее...

  • В Санкт-Петербургском государственном электротехническом университете "ЛЭТИ" (СПбГЭТУ) состоялась презентация первого в России нанотехнического комплекса Strata FIB 205 компании FEI Company.Подробнее...

  • Санкт-Петербургский государственный электротехнический университет (ЛЭТИ) запустил первый в Росии нанотехнологический комплекс Strata FIB 205 компании FEI Company. Подробнее...

  • В центре электронной микроскопии Нижегородской Государственной Медицинской Академии установлен трансмиссионный электронный микроскоп MORGAGNI 268D Фирмы FEI. Подробнее...

  • Газета "Сорок один" в рубрике "Зеленоградский прорыв" опуликовала интервью с руководителем малого предприятия ЗАО "Нанотехнология-МДТ" В.А. Быковым. Подробнее...

  • 20-26 февраля состоялся VI Международный Уральский семинар по радиационной физике металлов и сплавов, на котором среди прочих вопросов была рассмотрена проблема изучения с помощью электронной микроскопии механизмов воздействия ионизирующих излучений на распад опухолевых и здоровых тканей человеческого тела с целью оптимизации параметров облучения и минимизации вредного воздействия на окружающие опухоль здоровые ткани.Подробнее...

  • На официальном сайте Сергея Глазьева опубликована статья "Экономические чудеса 20 века".

  • Компания "СМА" принимает активное участие в подготовке к проведению международной и всероссийской научной конференции по современным направлениям науки, посвященной двухсотлетию основания Казанского Государственного Университета.

  • 17 ноября 2004 года компания ООО "СМА" приняла участие в научно-практическом семинаре "Научно-технологическое обеспечение инновационной деятельности предприятий, институтов и фирм в металлургии", проходившем в Московском Государственном Институте Стали и Сплавов. Подробнее...

  • В сентябре-октябре 2004 года компания "СМА" провела ряд научно-практических семинаров с ведущими научными организациями России на тему "Новое оборудование для электронной/ионной микроскопии и микроанализа производства компаний FEI и EDAX". С тематикой семинара можно ознакомиться здесь. В ходе работы семинара, участники имели возможность на практике ознакомиться со сканирующим ионным микроскопом (рабочая станция с фокусированным ионным пучком) STRATA FIB 205, просвечивающим электронным микроскопом Tecnai 12, сканирующим электронным микроскопом серии Quanta, рентгеновской микрофлуоресцентной системой EAGLE II.

  • Компания ООО "СМА" приняла участие во Второй выставке-конференции по криминалистике и судебной экспертизе с докладом по теме "Система цифровой фотомикроскопии и анализа изображений" 2 марта 2004 года в здании ГУ "ЭКЦ МВД РФ"