О компании Новости Продукция Услуги Партнеры События Вопросы Контакты
Сотрудники компании “Системы для микроскопии и анализа” значительное внимание уделяют научной работе. Ниже приведены некоторые из статей и книг, опубликованных нашими сотрудниками за последние несколько лет.

  • Куприянова Т.А., Филиппов М.Н. ”Определение легких элементов в электронно-зондовом микроанализе”.//Изв. АН, сер.физ. 1998. Т. 62,№3. С.627-634.
  • Сафонов И.В., Спиридонов Б.А., Ширяев В.В. “Принципы построения интерактивных систем анализа объектов на изображениях”.// “Приборы и системы управления”. №9. 1998. С. 40-42.
  • A.N. Obraztsov, I.Yu. Pavlovsky, A.P. Volkov, V.I. Petrov, A.S. Petrov, E.V. Rakova, V.V. Roddatis, Electron Field Emission and Structural Properties of Carbon CVD Films, Diamond and Rel. Materials, n8, pp.814-819, 1999.
  • N.N. Iosad, T.M. Klapwijk, S.N. Polyako, V.V. Roddatis, E.K. Kovev, P.N. Dimitriev, "Properties of DC magnetron sputtered Nb and NbN films for different source conditions", IEEE Transactions on Applied Superconductivity, vol. 9, no 2, pp. 1720-1723, 1999.
  • Куприянова Т.А., Лямина О.И., Семенков В.Ф., Шабалин В.Н. “Методические особенности определения основных и микроэлементов в сыворотке и клетках периферической крови рентгенофлуоресцентным методом”.// “Клиническая лабораторная диагностика”. 1999. № 8. С. 11-15.
  • Куприянова Т.А., Филиппов М.Н., Дембовский С.А., Лямина О.И., Козюхин С.А. “Оценка степени кристалличности Se по относительной интегральной интенсивности последней линии эмиссионного рентгеновского спектра”.// “Решетка Тарасова и новые проблемы стеклообразного состояния”. М. 1999. С. 65-67.
  • Маврин Г.Н., Сафонов И.В., Кольцова С.И. “Сегментация зерен металлов методом маркерного водораздела”.// “Инженерная физика” М. № 4. 2000. С. 66-70.
  • Куприянова Т.А., Козюхин С. А., Филиппов М. Н., Дембовский С.А., Лямина О. И., Иванова О. Н. “Исследование структурных изменений в стеклах Se1-xTex (0 Ј x Ј 0,2) по относительной интегральной интенсивности последней линии эмиссионного рентгеновского спектра”. //“Материаловедение”. М. 2000. №11. С. 29-33.
  • P.A. Trubenko, V.I. Kozlovsky, V.V. Roddatis, Cathodoluminescence and TEM studies of MBE-grown CdSe submonolayers in ZnSe matrix, cladded by ZnSSe, ZnSe and ZnMgSe, Journal of Crystal Growth, 214/215, pp. 671-675, 2000.
  • V. I. Kozlovsky, P. A. Trubenko, Yu. V. Korostelin, and V. V. Roddatis, ZnMgSe/ZnCdSe-Based Distributed Bragg Mirrors Grown by Molecular-Beam Epitaxy on ZnSe Substrates, Semiconductors, 34(10), pp.1186-1192, 2000.
  • N.N. Iosad, A.V. Mijiritskii, V.V. Roddatis, N.M. van der Pers, B.D. Jackson, J.R. Gao, S.N. Polyakov, P.N. Dmitriev, T.M. Klapwijk, Properties of (Nb-0.35, Ti-0.15)(x)Ni1-x thin films deposited on silicon wafers at ambient substrate temperature, J APPL PHYS 88: (10), pp.5756-5759, 2000.
  • Дюков В.Г. “Контроль контаминации кремниевых объектов методами фото-ЭДС”, Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования.//РАН. М. №12, 2000. С. 66-72. V.V. Roddatis, E.A. Stepantsov and N.A. Kiselev, HREM investigations of intermediate ZnO and ZnO/Y- ZrO2 layers in Y- ZrO2 bicrystals and ZnO films grown on Y-ZrO2 bicrystal substrates, Journal of Crystal Growth, 220/4, pp.515-521, 2000.
  • N.I. Maksimova, V.V. Roddatis, G. Mestl, M. Ledoux, R. Schloegl, Oxidative Dehydrogenation of Ethylbenzene to Styrene over Carbonaceous Materials, Eurasian ChemTech Journal 2 pp.231-236 2000.
  • Morozova D.A., Shestakova T.V., Kondrashov N.A., Pouchko S.V., “The location of heavy elements in technogenerated formations of Kamchatka ore depositions”, 5th International Conference “New ideas in Earth Sciences”, Moscow, p.42, 2000.
  • Balbashov A.M., Gubkin M.K., Kireev V.V., Mel'nikov O.K., Perekalina T.M., Pouchko S.V., “New low-frequency magnetic excitons in LaMnO3 single-crystals”, Russian Journal of Applied and Basic Physics (ЖЭТФ), 117, pp 542-547, 2000.
  • Рудаков П.И., Сафонов И.В. “Обработка сигналов и изображений. MATLAB 5.x”, учебно-справочное издание.// М. “Диалог-МИФИ”. 2000. 413 стр.
  • Kuprijanova T.A., Filippov M.N., Dembovsky S.A., Liamina O.I., Kozuhin S.A. “Estimation of the degree of order in selenium glasses with the use of by relative integral intensity of the last line of X-ray emission spectrum”.//Bulletin of the V.Tarasov center of the chemotronics of glass. No. 1. 2000. М. Mendeleev University of Chemical Technology of Russia. P. 37-39.
  • Mavrin G.N., Safonov I.V. “Marker-controlled watershed algorithm for segmentation of metals's grains”.//Moscow. 3rd International Conference and exhibition on “Digital signal processing and its applications”, proceedings 2. P. 76-78.
  • Филиппов М. Н., Куприянова Т. А., Лямина О. И. “Одновременное определение концентрации и формы нахождения элементов в твердом теле рентгенофлуоресцентным методом”.//ЖАХ, 2001. Т. 56, вып. 8. С. 271-280.
  • Островская В.М., Лямина О.И., Куприянова Т.А., Юшкова О.Г. “Мембраны на основе полидентатных целлюлоз с гетарилформазанилгруппами для отделения тяжелых металлов”.//Мембраны.Сер.Критические технологии. 2001. № 11. С.32-37.
  • N.N. Iosad, V.V. Roddatis, S.N. Polyakov, A.V. Varlashkin, B.D. Jackson, P.N. Dmitriev, J.R. Gao, T.M. Klapwijk, Superconducting transition metal nitride films for THz SIS mixers, IEEE TRANSACTIONS ON APPLIED SUPERCONDUCTIVITY 11 (1): pp. 3832-3835, Part 3 MAR 2001.
  • Gerhard Mestl, N.I. Maksimova, Nicolas Keller, Vladimir V. Roddatis and Robert Schlogl, Carbon Nanofilaments in Heterogeneous Catalysis: An Industrial Application for New Carbon Materials, Angewandte Chemie International Edition, Vol. 40, Issue 11, 2001, pp. 2066-2068.
  • O. M. Zhigalina, P. V. Burmistrova, A. L. Vasil'ev, V.V. Roddatis, K. A. Vorotilov, and A. S. Sigov, Electron Microscopy Study of Ferroelectric Memory Based on Si-SiO2-Ti-Pt-PZT Multilayer Structure, Russian Microelectronics, Vol. 30, No. 3, pp. 175-186, 2001.
  • P.A. Troubenko, V.I. Kozlovsky, T. Yao, Y.V. Korostelin and V.V. Roddatis, Homoepitaxial distributed Bragg structures grown by MBE on ZnSe substrates, Journal of Crystal Growth, 227-228, pp. 699-704, 2001.
  • V.V. Roddatis, D.S. Su, C. Kuhrs, W. Ranke and R. Schlogl, Transmission electron microscopy investigation of Fe3O4 films grown on (111) Pt substrates, accepted to Thin Solid Films, N396 (1-2), pp. 78-83, 2001.
  • D.S. Su, V.V. Roddatis, M. Willinger, G. Weinberg, E. Kitzelmann, R.Schlogl and H. Knozinger: Tribochemical modification of the microstructure of V2O5, Catalysis Letters, 74(3/4), pp. 169-175, 2001.
  • Рудаков П.И., Сафонов И.В., Ширяев В.В. “Компьютерные системы кариотипирования (анализа хромосом): состояние и проблемы”.// “Информационные технологии в здравоохранении”. №6-7. 2001. С. 18-19.
  • Pouchko S.V., Ivanov-Schitz A.K., Ooms F.G.B., Schoonman J., “Lithium insertion into gamma-type vanadium oxide bronzes doped with molybdenum (VI) and tungsten (VI) ions.”, Solid State Ionics 144, 151-161, 2001.
  • Cuong Pham-Huu, Nicolas Keller, Vladimir V. Roddatis, Gerhard Mestl, Robert Schlogl and Marc J. Ledoux, Large scale synthesis of carbon nanofibers bycatalytic decomposition of ethane on nickel nanoclusters decorating carbon nanotubes, Physical Chemistry-Chemical Physics, 4, pp. 514-521, 2002.
  • Skundin A.M., Grigor'eva O.Yu., Kulova T.L., Pouchko S.V. “The lithium diffusion in thermoexpanded graphite.”, Abstracts of Joint International Meeting - the 200th Meeting of The Electrochemical Society, Inc. and the 52nd Annual Meeting of the International Society of Electrochemistry, San Francisco, California, September 2-7, pp. 235, 2001.
  • V.V. Roddatis, D.S. Su, E. Beckmann, F. Jentoft, U. Braun, J. Krohnert and R. Schlogl, The structure of thin zirconia films obtained by self-assembled monolayer mediated deposition: TEM and HREM study, submitted Surface/Coatings Technology, Vol. 151-152C, pp. 63-66, 2002.