Лаборатория применения располагает следующим оборудованием:
1. Растровый двухлучевой электронный микроскоп “Quanta 3D FEG” с разрешением 1,2 нм FEG (электронная пушка с полевой эмиссией) и 7 нм FIB (сфокусированный ионный пучок), с возможностью работы в режиме естественной среды (давление в камере до 2600 Па) и 100% влажности (влажные и газящие образцы). Оснащён следующим оборудованием:

• детектор обратно-отраженных электронов EBS (3 нм);
  
• детектор, работающий в режиме на просвет STEM (0,8 нм);
  
• энерго-дисперсионный анализатор EDAX;
  
• охлаждающий столик для работы в режиме отрицательных температур и при 100% влажности;
  
• микроманипулятор Kleindiek.

2. Просвечивающий электронный микроскоп “Philips CM 30” (с ускоряющим напряжением 300kV) со STEM-режимом.
3. Оптико-электронный микроскоп "Phenom".
4. Оптический микроскоп "Leica", оснащенный системой цифровой регистрации и анализа изображений "Image Scope".

Краткий перечень работ, проводимых лабораторией применения:
1. Нанопрототипирование. Создание 3D-объектов. Изготовление микросрезов и микросечений. 3D-реконструкция объектов.
2. Приготовление образцов для просвечивающей электронной микроскопии в заданном на образце месте.
3. Исследование морфологии в РЭМ. Получение изображений с высоким разрешением в режимах высокого, низкого вакуума, а так же в естественной среде (режим ESEM) различных типов образцов (микроэлектроники, массивные проводники, диэлектрики, пленки, полимеры, биологические объекты). Максимальный размер образцов более 200 мм.
4. Аналитические исследования образцов, в том числе: количественное определение состава, получение карт распределения элементов на заданном участке образца (chemical mapping).
5. Исследование структуры и морфологии объектов в ПЭМ. Работы подразумевают проведение электронно-дифракционных исследований, исследований с высоким разрешением, микроанализ.
6. Анализ и обработка изображений, полученных с помощью ПЭМ. Расчет изображений высокого разрешения.
7. Исследование образцов в оптическом диапазоне, обработка результатов “on-line”. Cтатистическая обработка массивов частиц (построение диаграмм распределения по размерам).
8. Составление подробного отчёта с результатами исследования (по желанию клиента)

Имеется возможность присутствия заказчика и участия его в процессе работы.
Для сертифицированных пользователей предусмотрена возможность самостоятельной работы (аренды оборудования).
В компании ООО «Системы для микроскопии и анализа» проводятся демонстрации приборов, а также организуются семинары и курсы по обучению работе на электронных микроскопах.

Время работ	Растровая электронная микроскопия (в час)	Просвечивающая электронная микроскопия (в час)	Аренда РЭМ Phenom (в час)	Обучение на оборудовании ООО "СМА" (на человека в день)	Обучение на оборудовании заказчика*	Пробоподготовка
Разовые работы, 2 часа	7600	-	-	-	-	Договорная**
Разовые работы, 4 часа	6300	8200	-	-	-	Договорная**
Разовые работы, 8 часов	5000	6500	-	35 000	-	Договорная**
Договор с предоплатой на 24 часа	4300	5600	1500	30 000	60 000	Договорная**
Договор с предоплатой на 40 часов	3800	5000	1200	28 000	56 000	Договорная**