О компании Новости Продукция Услуги Партнеры События Вопросы Контакты
Сканирующие электронно-ионные микроскопы
Перейти к более подробному описанию Strata DB 235 M. DualBeam FIB/SEM

Quanta 3D
Электронно-ионные сканирующие микроскопы Quanta 3D – модифицированные системы на базе сканирующих электронных микроскопов Quanta. Приборы для исследования внутреннего строения объектов и создания стерео изображения образцов без дополнительной программной обработки. Quanta 200 3D – электронно-ионный сканирующий микроскоп с электроннолучевой колонной, оснащенной вольфрамовым катодом, ускоряющее напряжение от 200эВ до 30кВ, разрешение (при оптимальном WD) 3,5 нм при 35кВ; 3,5 нм при 30кВ в режиме естественной среды; < 15 нм при 1кВ в режиме низкого вакуума. Ионная колонна Magnum с галлиевым жидкометаллическим источником ионов, ускоряющее напряжение от 5 кВ до 30 кВ, разрешение 20 нм. Система оснащена 5-и осевым моторизованным столиком 50х50х25 мм, газовыми инжекционными системами для напыления проводников и диэлектриков, а также для травления образцов. Прибор идеален для анализа внутреннего строения объектов. В состав прибора включено программное обеспечение для автоматизированной подготовки проб к анализу на просвечивающем микроскопе.
Ионный сканирующий микроскоп Strata FIB 201. Ионный микроскоп с галлиевым жидкометаллическим источником ионов, ускоряющее напряжение от 5 кВ до 20 кВ, разрешение 7 нм, ток пучка от 1пА до 11,5нА, плотность тока до 50 А/см2. Система оснащена 4-х осевым моторизованным столиком 50х50 мм, газовыми инжекционными системами для напыления проводников и диэлектриков, а также для травления образцов. Прибор идеален для анализа внутреннего строения объектов и подготовки проб к анализу на просвечивающем микроскопе.
Ионный сканирующий микроскоп Strata FIB 205. Ионный микроскоп с галлиевым жидкометаллическим источником ионов, ускоряющее напряжение от 5 кВ до 20 кВ, разрешение 7 нм, ток пучка от 1 пА до 20 нА, плотность тока до 100 А/см2. Система оснащена 5-и осевым моторизованным столиком 50х50 мм, газовыми инжекционными системами для напыления проводников и диэлектриков, а также для травления образцов. Прибор идеален для анализа внутреннего строения объектов. В состав прибора включено программное обеспечение для автоматизированной подготовки проб к анализу на ПЭМ.

Nova 200
Электронно-ионные сканирующие микроскопы Nova NanoLab – новое поколение приборов для исследования внутреннего строения объектов и создания стерео изображения образцов без дополнительной программной обработки. Nova 200 – электронно-ионный сканирующий микроскоп с электроннолучевой колонной, оснащенной катодом с полевой эмиссией, ускоряющее напряжение от 200эВ до 30кВ, разрешение (при оптимальном WD) 1,1 нм при 15кВ; 2,5 нм при 1кВ; 3,5 нм при 500В. Ионная колонна Magnum с галлиевым жидкометаллическим источником ионов, ускоряющее напряжение от 5 кВ до 30 кВ, разрешение 7 нм. Система оснащена 5-и осевым моторизованным столиком 50х50х25 мм, газовыми инжекционными системами для напыления проводников и диэлектриков, а также для травления образцов. Прибор идеален для анализа внутреннего строения объектов. В состав прибора включено программное обеспечение для автоматизированной подготовки проб к анализу на просвечивающем микроскопе.

Nova 600
Электронно-ионные сканирующие микроскопы Nova NanoLab – новое поколение приборов для исследования внутреннего строения объектов и создания стерео изображения образцов без дополнительной программной обработки. Nova 400 – электронно-ионный сканирующий микроскоп с электроннолучевой колонной, оснащенной катодом с полевой эмиссией, ускоряющее напряжение от 200эВ до 30кВ, разрешение (при оптимальном WD) 1,1 нм при 15кВ; 2,5 нм при 1кВ; 3,5 нм при 500В. Ионная колонна Magnum с галлиевым жидкометаллическим источником ионов, ускоряющее напряжение от 5 кВ до 30 кВ, разрешение 7 нм. Система оснащена 5-и осевым моторизованным столиком 150х150х10 мм, газовыми инжекционными системами для напыления проводников и диэлектриков, а также для травления образцов. Прибор идеален для анализа внутреннего строения объектов. В состав прибора включено программное обеспечение для автоматизированной подготовки проб к анализу на просвечивающем микроскопе.


Назад