Электронная микроскопия

Растровый электронный микроскоп (РЭМ, англ. Scanning Electron Microscope, SEM) предназначен для получения изображений поверхности с высоким разрешением (около 1 нанометра), при этом глубина резкости значительно выше по сравнению со световыми микроскопами. С помощью различных дополнительного аналитического оборудования можно получать информацию об элементном и фазовом составе, кристаллической структуре, ориентации зерен и других свойствах поверхности (проведение химического анализа). Сегодня этот метод используется практически во всех областях науки и производства, от биологии до материаловедения. Кроме режимов высокого вакуума, существуют приборы, позволяющие производить съемку в низком вакууме, что необходимо для работы с непроводящими образцами.Некоторые приборы поддерживают режим естественной среды для съемки влажных, газящих и биологических объектов.

Главной задачей метода является получение изображений объекта с высоким разрешением. Использование различных детекторов сигнала и аналитических приставок позволяет делать выводы о морфологии и составе поверхности в микро- и наномасштабе (электронно-микроскопический анализ).

Применение:

  • Получение изображений объектов с микро и нано разрешением
  • Исследование морфологических особенностей поверхности (рельеф)
  • Элементный и фазовый микроанализ поверхности
  • Исследование морфологии поверхности с нанометровым разрешением
  • Исследование приповерхностных слоев в поперечном сечении с субнанометровым разрешением
  • Работа с образцами любых типов, в том числе биоматериалами в нативном состоянии
  • Съемка со сшивкой до 10000 кадров (MAPS ) с больших площадей
  • Элементный анализ поверхности образца в точке, по линии, по поверхности
  • Построение 3D моделей и виртуальных сечений объектов с нанометровым разрешением
  • Трехмерная реконструкция распределения элементного состава
  • Визуализация и количественный анализ скрытых микродефектов, пор, включений
  • Изготовление и исправление прототипов в области нанотехнологий и микроэлектроники
  • Изготовление образцов для просвечивающей электронной микроскопии