Рентгеновский томограф высокого разрешения (микро-КТ, англ. X-ray Microscope, XRM, micro-CT)  по разрешающей способности  находится между оптическими и электронными микроскопами – до 0.7 мкм. При этом метод позволяет неразрушающим способом визуализировать объемный фрагмент образца (исследование Керна). Размеры образцов могут достигать 400мм в диаметре и находиться в естественной среде. Метод предназначен для различных исследований трехмерной структуры образца, как в макро, так и в микрометровом масштабе.

Применение:

  • Неразрушающий контроль объемных микрообъектов в нативном состоянии
  • Структурная характеризация образцов
  • Поиск области интереса для подробного изучения
  • Исследование внутренней структуры образца без его разрушения
  • Построение 3D моделей и виртуальных сечений объектов с микрометровым разрешением
  • Работа с образцами размерами от нескольких миллиметров до десятков сантиметров
  • Расчет внутренней поверхности, характеристик объемного распределения
  • Визуализация и количественный анализ скрытых дефектов, пор, включений