Лаборатория ЦКП Микроанализ в Сколково

Оборудование лаборатории

  1. Двулучевая аналитическая система для растровой электронно-ионной  
      микроскопии FEIVersa 3DLowVac, 2013 г. в.
  2. Двулучевая аналитическая система для растровой электронно-ионной  
      микроскопии FEIHeliosNanoLab 660, 2013 г. в.
  3. Анализатор частиц Ambivalue EyeTech. 2012 г. в.
  4. Конфокальный микроскоп FEICorrSight, 2014 г. в.
 

  5. Рентгеновский микротомограф высокого разрешения ( <1мкм) XradiaVersaXRM-500, 2012 г. в.
  6. Рентгенофлуоресцентный анализатор (спектрометр) EDAXOrbisMicroXRFAnalyzer, 2013 г. в.
  7. Сканирующий просвечивающий аналитический электронный микроскоп FEITecnaiF20 FEG, 2013 г. в
  8. Просвечивающий электронный микроскоп; FEI Tecnai G2 20 FEG c системой GIF, 2012 г. в.
  9. Фотоэлектронный спектрометр PHI Versa Probe II, 2013 г. в.
10. Универсальный световой исследовательский микроскоп Leica DM LB2 с системой
      цифровой съемки и специализированным метрологическим программным
      обеспечением для обработки изображений ImageScope-М
11. Настольный растровый электронный микроскоп FEI Phenom, 2013 г. в.
12. Система пробоподготовки образцов для растровой микроскопии SPI. 2013 г.в.
13. Просвечивающий электронный микроскоп Philips CM30

 


Предполагается закупка/установка следующего оборудования:

  1. Доукомплектование лаборатории системами пробоподготовки для растровой и просвечивающей электронной микроскопии
  2. Рентгеновский микроскоп с возможностью микротомографии объекта, X-Xradia XRM 510
  3. Различное аналитическое опционное оборудование для электронной микроскопии.


Общие сведения

  • Лаборатория СМА получила статус аккредитованного центра коллективного пользования «Микроанализ» Технопарка «Сколково» в 2012 г.
  • Лаборатория оснащена современными системами для оптической, растровой, ионной, просвечивающей микроскопии, а также рентгеновской томографии высокого разрешения, трехмерной микроскопии, фотоэлектронной спектроскопии, анализа частиц методом прямого определения размеров, элементного микроанализа.
  • Современная высокотехнологичная  инфраструктура лаборатории ЦКП «Микроанализ» позволяет решать широкий спектр актуальных задач в различных областях: микроэлектронике, науке о живом, природных ресурсах, материаловедении.
  • Эксплуатация оборудования в 2 смены.
  • Предоставление квалифицированного аттестованного персонала.
  • Полное техническое обслуживание парка приборов, включая профилактические и ремонтные работы.
  • Обеспечение расходными материалами и запчастями без ограничений. 


Основные исследования

Рентгеновская микротомография:

  • Исследование внутренней структуры образца без его разрушения
  • Построение 3D моделей и виртуальных сечений объектов с микрометровым разрешением
  • Работа с образцами размерами от  нескольких миллиметров до десятков сантиметров
  • Расчет внутренней поверхности, объема
  • Визуализация и количественный анализ скрытых дефектов, пор, включений

Растровая электронная/ионная микроскопия высокого разрешения (SEM/FIB):

  • Исследование морфологии поверхности с нанометровым разрешением
  • Исследование приповерхностных слоев в поперечном сечении с субнанометровым разрешением
  • Работа с образцами любых типов, в том числе биоматериалами в нативном состоянии
  • Элементный анализ поверхности образца в точке, по линии, по поверхности
  • Построение 3D моделей и виртуальных сечений объектов с нанометровым разрешением
  • Трехмерная реконструкция состава
  • Визуализация и количественный анализ скрытых дефектов, пор, включений
  • Изготовление и исправление прототипов в области нанотехнологий и микроэлектроники
  • Изготовление образцов для просвечивающей электронной микроскопии

 Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия:

  • Определение элементного состава поверхности образца с локальностью до нанометра
  • Анализ химических связей между элементами
  • Построение карт распределения элементов по поверхности
  • Профилирование элементного и химического состава по глубине

Корреляционная конфокальная микроскопия:

  • Многофункциональная конфокальная микроскопия для исследований в области Life Sciences
  • Корреляционные микроскопические исследования: совмещение изображений световой, электронной микроскопии и аналитических методов

Сканирующая аналитическая высокоразрешающая просвечивающая электронная микроскопия:

  • Структурные исследования на атомарном уровне (разрешение до 0,13 нм)
  • Исследование живых тканей и биологических систем на уровне макромолекул
  • Исследование дефектов структуры кристаллических материалов
  • Электронография и кристаллографический анализ
  • Анализ элементного и фазового состава нанометровых объектов

Сканирующая микрорентгенофлуоресцентная спектроскопия:

  • Экспресс метод определения элементного состава для любых типов образцов

Световая микроскопия:

  • Исследование образцов в видимом свете
  • Автоматическая обработка полученных изображений по ряду параметров

Анализ концентрации, формы и размера частиц:

  • Анализ порошков, гелей, эмульсий, аэрозолей с размером частиц в диапазоне от 0.1 до 3600 мкм
  • Экспресс анализ распределения частиц по размерам, распознавание формы и определение концентрации в одном процессе

Обработка баз данных изображений с помощью специализированного ПО:

  • Обработка цифровых изображений и морфологический анализ микрообъектов более чем по 40 различным признакам
  • Метрологически достоверные результаты измерений
  • Объемная визуализация, обработка и анализ данных микроструктурных исследований
  • Моделирование динамических процессов в трехмерной среде, реконструированной на основе данных объемной микроскопии
  • Сегментирование и волюметрический анализ структурных составляющих (пористость, включения, объемное распределение фазового состава)

 

Для получения доступа к нашим сервисам отправьте, пожалуйста, заявку.

Наши специалисты свяжутся с Вами для уточнения деталей предстоящей работы, оценят объём работ и  подготовят договор на оказание услуг.

Мы также предложим Вам дату и время для проведения демонстрационных работ и очных консультаций. Оплата за эти работы и консультации не взымается. По результатам демоработы согласуется объем, состав исследований и график работ.