Дни Тема План Примечание Время, мин
1 Электронная дифракция Различные виды электронной дифракции. Теоретическая часть 90
Перерыв 30
Использование гониометра. Получение заданной оси зоны 90
Обед 60
Практика .Ответы на вопросы Самостоятельная работа 90
Перерыв 30
Практика .Ответы на вопросы Самостоятельная работа 90
2 Высокое разрешение. Фазовый контраст. Введение в теорию Теоретическая часть 90
Перерыв Чай,  кофе 30
Получение изображений с высоким разрешением Влияние диафрагм и параметров электронного пучка на изображение 90
Обед 60
Практика .Ответы на вопросы Самостоятельная работа 90
Перерыв Чай,  кофе 30
Практика .Ответы на вопросы Самостоятельная работа 90
3 Исследование  дислокаций. Дифракционный контраст.                    Метод слабых пучков Исследование  дислокаций. Дифракционный контраст. Метод слабых пучков. Методы исследования дислокаций.  Определение вектора Бюргерса. Метод слабых пучков. 90
Перерыв Чай,  кофе 30
Принципы получения изображений дислокаций и определение вектора Бюргерса. Получение изображений дислокаций в двухлучевом приближении. Определение вектора Бюргерса. Метод слабых пучков. 90
Обед 60
Практика .Ответы на вопросы Самостоятельная работа 90
Перерыв Чай,  кофе 30
Зачёт по курсу Тест по теории 90
Тест по практике
1 Режим STEM. Режим HAADF. Юстировка микроскопа в режиме STEM. Получение изображений в режиме сканирования (STEM) 90
Перерыв Чай,  кофе 30
Светло- и темнопольные изображения.  Получение изображений в режиме сканирования (STEM) 90
Обед 60
Практика .Ответы на вопросы Самостоятельная работа 90
Перерыв Чай,  кофе 30
Практика .Ответы на вопросы Самостоятельная работа 90
2 Режим HAADF Возможности программы ТIA 90
Перерыв Чай,  кофе 30
Регистрация и обработка изображений 90
Обед 60
Практика .Ответы на вопросы Самостоятельная работа 90
Перерыв Чай,  кофе 30
Практика .Ответы на вопросы Самостоятельная работа 90
3 Аналитические методы электронной микроскопии: EDXS Введение. Аналитический метод EDX.  Теоретическая часть 90
Перерыв Чай,  кофе 30
Описание части программы TIA, предназначенной для анализа EDXS 90
Обед 60
Практика .Ответы на вопросы Самостоятельная работа 90
Перерыв Чай,  кофе 30
Зачёт по курсу Тест по теории 90
Тест по практике
1 Аналитические методы электронной микроскопии: EELS Введение. Аналитический метод EELS. Теоретическая часть 90
Перерыв Чай,  кофе 30
Описание части программы TIA, предназначенной для анализа EELS 90
Обед 60
Практика .Ответы на вопросы Самостоятельная работа 90
Перерыв Чай,  кофе 30
Практика .Ответы на вопросы Самостоятельная работа 90
2 Использование EELS для элементного картирования. 90
Перерыв Чай,  кофе 30
Использование EELS для элементного картирования. 90
Обед 60
Практика .Ответы на вопросы Самостоятельная работа 90
Перерыв Чай,  кофе 30
Зачёт по курсу Тест по теории 90
Тест по практике
1 Подготовка образцов для ПЭМ Методы и аппаратура для механической обработки. Резка, шлифовка, полировка. 90
Перерыв Чай,  кофе 30
скалывание Использование TRIPOD’а 90
Обед 60
Химическое и электрохимическое травление 90
Перерыв Чай,  кофе 30
Химическое и электрохимическое травление 90
2 Ионное травление образцов Возможности метода Принципы и аппаратура 90
Перерыв Чай,  кофе 30
Приготовление лунок с помощью Dimple Grinder. Плоскопараллельная шлифовка. Ионное травление. 90
Обед 60
Изготовление поперечных срезов образцов 90
Перерыв Чай,  кофе 30
 Изготовление образцов «в плане». 90
3 Микротомирование Возможности метода Принципы и аппаратура 90
Перерыв Чай,  кофе 30
Практика .Ответы на вопросы Самостоятельная работа 90
Обед 60
Практика .Ответы на вопросы Самостоятельная работа 90
Перерыв Чай,  кофе 30
Зачёт по курсу Тест по теории 90
Тест по практике

Калькулятор обучения на оборудовании ООО "СМА"

Цена не определена

Демонстрация работы приборов