Просвечивающая электронная микроскопия (ПЭМ, англ. Transmission Electron Microscopy, TEM)

Просвечивающий электронный микроскоп (ПЭМ, англ. Transmission Electron Microscopy, TEM) – позволяет получить изображение тонкого образца (около 0.1 мкм) с разрешающей способностью 0.2 нанометров. Объектом исследования может быть любой вакуум-совместимый образец, в том числе замороженная жидкость (Крио-ПЭМ). ПЭМ применяется во всех областях науки и производства – биологии, медицине, материаловедении, электронике и других.

Главной задачей прибора является получение изображений и элементный анализ (в том числе по легким элементам) с нанометровым разрешением.

Применение:

  • Микроструктурные исследования с атомным разрешением
  • Электронография
  • Анализ фазового, элементного и хим. состава с нанометровым разрешением
  • Структурные исследования на атомарном уровне (разрешение до 0,13 нм)
  • Исследование живых тканей и биологических систем на уровне макромолекул
  • Исследование дефектов структуры кристаллических материалов
  • Электронография и кристаллографический анализ
  • Анализ элементного и фазового состава нанометровых объектов