PHI Quantera XPS, сканирующий микрозонд для фотоэлектронной спектроскопии второго поколения, обеспечивает чувствительность и инструментарий, необходимые для применения XPS метода ко всему спектру сегодняшних и будущих продуктов, а также в анализе отказов.
Высокопроизводительная спектроскопия микрообласти, XPS профилирование, автоматизированный анализ диэлектриков и роботизированные манипуляции с образцом определяют лицо XPS-прибора предназначенного для анализа поверхности в современной лаборатории.
К уникальным особенностям Quantera SXM относятся:
- Запатентованная технология сканирования рентгеновским пучком с минимальным диаметром пучка < 9 мкм
- Реализация всех возможностей XPS-метода (спектроскопия, профилирование по глубине, картирование и т.д.) для всех диаметров рентгеновского пучка
- Самый высокопроизводительный инструмент для профилирования тонких пленок
- Опционная фуллеренная (C60) ионная пушка для профилирования органических /полимерных материалов.
- Автоматизированный анализ непроводящих образцов
- Точность количественного анализа
- Роботизированные манипуляции с образцом
- Полная автоматизация, простота использования
Возможность спектроскопии микрообласти и высокая производительность при анализе тонких пленок позволяет открывать новые области применения для XPS -анализа поверхности.
Полная автоматизация системы упрощает эксплуатацию и повышает воспроизводимость результатов измерений. Большой размер столика образцов позволяет анализировать действительно крупные образцы из "реального мира" автоматически или сразу несколько мелких образцов.