Сканирующие

Сканирующие микроскопы

В сканирующем электронном микроскопе используется детектирование различных сигналов, включая вторичные электроны, обратно рассеянные электроны, рентгеновское излучение и ток через образец.

Основные применения сканирующей электронной микроскопии:

  • визуализация топографии поверхности (при регистрации вторичных электронов)
  • фрактографические исследования структуры поверхности излома образцов (Шарпи, COD, ST и др.)
  • карты распределения элементов на поверхности и в поверхностных слоях (при регистрации обратно рассеянных электронов, оже-электронов и рентгеновского излучения)
  • исследования микроструктур и микротекстур
Фильтр по товарам
Фильтр по типу «Применение»

Наука о живом

Электроника

Природные ресурсы

Материаловедение

Металлургия

Фильтр по названию
Применить фильтр
Сбросить параметры
Inspect™ Линейка приборов включает в себя два растровых электронных микроскопа (РЭМ
Ускоряющее напряжение
200В – 30кВ
Ток пучка
до 2 мкА (плавно изменяемый)
Cканирующий электронный микроскоп Apreo (СЭМ) Thermo Scientific ™
Диапазон тока пучка:
от 0,1 пА до 400 нA
Диапазон энергий у поверхности образца
от 20 эВ до 30 кэВ
Функция замедления пучка
от –4000 В до +600 В