Электронные микроскопы

При проведении анализа образца с помощью электронной микроскопии поверхность образца сканируется точно сфокусированным пучком электронов. Облучение электронами приводит к излучению вторичных электронов, обратному рассеянию электронов высокой энергии и возникновению рентгеновских лучей, характеристики которых зависят от элементов образца.

Фильтр по товарам
Фильтр по типу «Применение»

Наука о живом

Микроэлектроника

Природные ресурсы

Материаловедение

Металлургия

Фильтр по названию
Применить фильтр
Сбросить параметры
Сканирующий электронный микроскоп СЭМ (SEM) FEI Verios
Ток зонда
от 0,8 пА до 100 нA
Диапазон энергий электронов у поверхности образца
20 эВ – 30 кэВ
Поле зрения
от ≤ 100 нм до 1,5 мм
Количество портов
21
Сканирующий электронный микроскоп Thermo Scientific™ Quattro ESEM
Ток пучка
1–200 пА
Низкий вакуум
10–4000 Па
Сканирующий Электронный Микроскоп Prisma E
Ускоряющее напряжение
200 В – 30 кВ
Ток пучка
До 2 мкА
Низкий вакуум
10–4000 Па