Электронные микроскопы

При проведении анализа образца с помощью электронной микроскопии поверхность образца сканируется точно сфокусированным пучком электронов. Облучение электронами приводит к излучению вторичных электронов, обратному рассеянию электронов высокой энергии и возникновению рентгеновских лучей, характеристики которых зависят от элементов образца.

Фильтр по товарам
Фильтр по типу «Применение»

Наука о живом

Микроэлектроника

Природные ресурсы

Материаловедение

Фильтр по названию
Применить фильтр
Сбросить параметры
Сканирующий электронный микроскоп СЭМ (SEM) FEI Verios
Ток зонда
от 0,8 пА до 100 нA
Диапазон энергий электронов у поверхности образца
20 эВ – 30 кэВ
Поле зрения
от ≤ 100 нм до 1,5 мм
Количество портов
21
Сканирующий электронный микроскоп Thermo Scientific™ Quattro ESEM
Ток пучка
1–200 пА
Низкий вакуум
10–4000 Па
Сканирующий Электронный Микроскоп Prisma E
Ускоряющее напряжение
200 В – 30 кВ
Ток пучка
До 2 мкА
Низкий вакуум
10–4000 Па