Электронные

Электронные микроскопы

При проведении анализа образца с помощью электронной микроскопии поверхность образца сканируется точно сфокусированным пучком электронов. Облучение электронами приводит к излучению вторичных электронов, обратному рассеянию электронов высокой энергии и возникновению рентгеновских лучей, характеристики которых зависят от элементов образца.

Фильтр по товарам
Фильтр по типу «Применение»

Наука о живом

Электроника

Природные ресурсы

Материаловедение

Металлургия

Фильтр по названию
Применить фильтр
Сбросить параметры
Просвечивающий электронный микроскоп (TEM) Talos F200i S/TEM
Линейное разрешение TEM
≤0,10 нм
Разрешение STEM HAADF
0,16 нм
Диапазон увеличений в STEM
290× – 330M×
Ток зонда
150 нА
Двулучевой растровый электронный микроскоп FEI Scios 2
Разрешение в ионах
3 нм
Диапазон тока пучка
от 1 пА до 400 нA
Двулучевой растровый электронный микроскоп FEI  Helios G4
Диапазон тока пучка
от 1 пА до 400 нA
Ускоряющее напряжение
Электроны 20 В - 30 кВ
Ионы - 0,1 пA - 65 нA
Анализатор Thermo Scientific ™ Explorer ™ 4
Ускоряющее напряжение
5 кВ – 20 кВ
ЭДС детектор
Площадь детектора 25 кв. мм, 137 эВ
Vion Plasma Focused Ion Beam
Ток пучка
1.5 пА – 1.3 мА