Получение в лабораторных условиях изображений по качеству схожих с синхротронными.

UltraXRM является единственной системой для компьютерной томографии сверхвысокого разрешения, используемой в лабораторных условиях для получения трехмерных изображений образцов микроскопических размеров. Рентгеновская фокусирующая оптика с большой точностью дает разрешение около 50 нм, легко расширяя возможности рентгеновской томографии за пределы возможностей обычных сканеров. Метод фазового контраста Цернике позволяет улучшить изображение, получаемое от края образца или границы раздела поверхностей с маленьким контрастом поглощающей способности.

UltraXRM позволяет получить надежную трехмерную информацию, которой иначе можно добраться только с помощью исследования предварительно приготовленных поперечных срезов или с помощью других деструктивных методов.

Применение:

  • Исследования в области наук о жизни
  • Пакет программ для факторного анализа полупроводников
  • Расширенный анализ в материаловедении
  • Построение моделей для оценки эффективности разработки месторождений нефти и газа
Показать полностью
  • Область применения
  • Документы
Основные характеристики
Разрешение
50 нм при увеличении в 800 крат
Показать полностью
Свернуть
  • Модели серии

UltraXRM-L200

Сверхвысокое разрешение. Неразрушающая 3D-визуализация.

Революционная система UltraXRM-L200 объединяет лабораторный источник рентгеновского излучения с высокой плотностью потока и запатентованную систему рентгеновской оптики, что дает возможность в лабораторных условиях использовать микроскоп в качестве сканера для компьютерной томографии сверхвысокого разрешения. Неразрушающая визуализация с использованием рентгеновских лучей позволяет получать подробные трехмерные изображения внутренней структуры исследуемых объектов без необходимости в их резке или приготовлении срезов. Система UltraXRM-L200 позволяет получить представление о микроструктурах и микропроцессах с разрешением 50 нм, что ранее было не доступно с помощью обычных рентгеновских технологий.

Использование рентгеновского излучения с энергией 8 кэВ позволяет UltraXRM-L200 исследовать текстуры и материалы в их естественном состоянии. Интегрированная технология фазового контраста, основанная на методе Цернике, повышает различимость границ зерен и границ раздела материалов при относительно низком контрасте показателей поглощения.

Преимущества:

  • Неразрушающая система трехмерной визуализации с помощью рентгеновского излучения позволяет получать повторные изображения одного и того же образца при различных условиях
  • Большое рабочее расстояние и атмосферная среда в камере позволяют проводить in situ исследования
  • Автоматическая регулировка и юстировка при получении изображения для реконструкции томограммы
  • Переключаемое поле зрения в диапазоне от 15 до 60 мкм
  • Визуализация происходит в режиме фазового контраста Цернике или режиме поглощения
Показать полностью
Характеристики
Диапазон напряжений
20 – 40 кВ
Максимальная мощность
1.2 кВ
Энергия излучаемых фотонов
8 кэВ