Оже-спектрометры

Оже - спектрометры

Метод Оже-электронной спектроскопии (ОЭС) является неразрушающим методом анализа, который позволяет определять элементный состав поверхностного слоя на глубине в несколько молекулярных слоев (несколько нанометров), что превосходит по разрешению метод РФЭС. Образец облучается первичными электронами, которые, сталкиваясь с электронами внешней оболочки материала образца, вызывают ионизацию атома. При переходе атома в нижнее энергетическое состояние могут возникать так называемые, оже-электроны. Оже-электроны покидают поверхность образца, при этом кинетическая энергия электронов определяется строением атома, который этот электрон покинул. Так, при анализе распределения оже-электронов по энергиям получается спектр, состоящий из оже-пиков, характеризующих состав поверхности образца. В комбинации с ионным травлением можно определять элементный состав материала на глубине несколько микрон.

Одна из разновидностей метода – растровая оже-спектроскопия (РОС) – позволяет получить пространственное распределение элементного состава в виде изображения в оже-электронах. Такой результат достигается сканированием электронного пучка по поверхности образца и последующем анализе энергий эмитированных оже-электронов. Проводя травление поверхности образца ионным пучком с одновременным проведением оже-электронного анализа можно получить график распределения элементов состава тонких пленок по глубине (профильный анализ).

Традиционные области применения ОЭС – изучение процессов сорбции и десорбции на поверхностях твердых тел, коррозии, явлений, происходящех при поверхностном гетерогенном катализе, контроль за чистотой поверхности в различных технологических процессах. Растровые оже-спектрометры используются также и в микроэлектронике, например, для выявления причин отказа различных элементов микросхем.

Области применения Оже-электронных спектрометров:

Исследование полупроводников

  • Микроскопические дефекты
  • Оксиды
  • Диффузия
  • Очистка поверхности
  • Эпитаксиальные слои
  • Контакты
  • Металлизация

Материаловедение

  • Адгезия
  • Коррозия
  • Трение и смачивание
  • Загрязнение поверхности
  • Дефекты
  • Оксиды
  • Силициды
спектрометры[ОС1] 

 [ОС1]Необходимо исправить ошибку в слове «спектрометры»

Фильтр по товарам
Фильтр по типу «Применение»

Наука о живом

Электроника

Природные ресурсы

Материаловедение

Металлургия

Фильтр по названию
Применить фильтр
Сбросить параметры